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AP电子分析天平消除静电对测量的影响

点击次数:146    发布时间:2020-07-20

AP电子分析天平消除静电对测量的影响

快速

  • 采用新型质量传感器 UniBloc AP,反应速度和稳定性均得以大幅提升。可实现快速稳定的测量。
  • 采用新处理方法软件(AP-I系统),提升测量操作感,让您更舒适和自由地使用天平。

 

可靠

  • 消除静电对测量的影响,确保可靠的测量结果。(需要选配件STABLO-AP)

 

 操作简便

  • 标准配备USB和RS232C连接器。可同时向打印机和PC输出数据。通过USB主设备(W系列配备),可连接USB存储器、键盘、条形码识别器。
  • 采用在黑暗处也可清晰看清屏幕的“有机EL显示器”。
  • 支持用户检查天平的功能。选择检查功能,操作界面即显示检查操作步骤。
  •  标准配备缓冲溶液的制备模式,样品制备模式,调配配方模式等。
  •  安全可靠的用户管理功能
  •  符合ISO/GMP/GLP的打印功能
  •  Labsolutions balance可实现天平称量数据在数据库中的一元化管理

 

 

 规格表:

型号量程精度重复性线性平均响应时间称盘尺寸
AP135W135g0.01mg0.05mg0.1mg8s91mm
AP125WD120g/52g0.1mg/0.01mg0.1mg/0.02mg0.2mg/0.05mg2s/8s91mm
AP225WD220g/102g0.1mg/0.01mg0.1mg/0.05mg0.2mg/0.1mg2s/8s91mm
AP124W120g0.1mg0.1mg0.2mg2s91mm
AP224W220g0.1mg0.1mg0.2mg2s91mm
AP324W320g0.1mg0.15mg0.3mg2s91mm
AP124X120g0.1mg0.1mg0.2mg2s91mm
AP224X220g0.1mg0.1mg0.2mg2s91mm
AP324X320g0.1mg0.15mg0.3mg2s91mm
AP124Y120g0.1mg0.1mg0.2mg2s91mm
AP224Y220g0.1mg0.1mg0.2mg2s91mm
AP324Y320g0.1mg0.15mg0.3mg2s91mm

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